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徕卡显微裂变径迹分析系统

简要描述:IMEXT FTA徕卡显微裂变径迹分析系统:裂变(Fission)是一个不稳定的重元素的原子核分裂为两个质量、大小相差不远的碎片(轻核),同时放出大量能量的现象;径迹(Tracks)是具有很高能量、带大量电荷的重粒子,通过固体绝缘材料(例如白云母、磷灰石、锆石等)时,在其所经过的途程中留下辐射损伤的狭窄痕迹。

  • 产品型号:IMEXT FTA
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2024-03-27
  • 访  问  量:317

产品分类

Product classification

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详细介绍

IMEXT FTA徕卡显微裂变径迹分析系统产品介绍:

1、裂变径迹技术原理

矿物中所含微量铀的自发裂变的衰变引起晶格的损伤产生径迹,测定矿物的铀含量和自发裂变径迹密度、数量和长度、角度,可以确定矿物的年龄。此法用样量少,可用样品种类多,测年范围可由数年到几十亿年,特别是在5万~100MA年期间内,测年效果较其他方法为好,是第四纪地质年代测定的重要方法之一。

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原理示意:

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样品示意:

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2、高整合的自动分析系统

系统高度集成智能显微镜、摄像机、电动扫描台等硬件设备;项目化管理、流程化操作;主要用于矿物裂变径迹分析。

系统所配软件包,专为裂变径迹应用开发,可完成裂变径迹显微镜镜下互为镜像样品颗粒定位和查找、图片拍摄;可满足裂变径迹测量的各种需求。

设备图:

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控制软件主界面图:

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IMEXT FTA徕卡显微裂变径迹分析系统测量分析流程:

1) 新建样品项目,开始裂变径迹分析;或者打开已有样品项目,继续分析;

2) 样品全貌图扫描;

3) 样品光薄片/云母片定位;

4) 样品观察方式配置;样品拍照模式配置;

5) 目标颗粒选择;

6) 目标颗粒Grain/Mice自动扫描;

7) 目标颗粒裂变径迹参数测量;

8) 裂变径迹数据统计;

9) 专用裂变径迹分析报告。

3、样品全貌图扫描

系统支持低倍物镜下快速扫描样品薄片,生成样品全貌图;包含光薄片Grain、云母片Mice、中间参考片。作为后续操作粗略定位薄片的参考。

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4、样品定位&切换

系统支持样品粗定位和精细定位两种模式;确保500X、1000X下能准确观察目标颗粒。

Relocation模块满足了对互为镜像云母片上的裂变径迹观察。在利用光学显微镜对云母片损伤产生径迹进行观察时,需要对2片互为镜像的光薄片/云母片上径迹进行对照分析,需要进行来回切换观察。该模块实现了自动化的寻找镜像及定位,让研究人员只需专注于径迹的观察。针对大量裂变径迹的观察,该模块提供了记录功能,可以记录下样品所有目标颗粒在光薄片和云母片上的位置,对目标颗粒进行重定位,方便下次观察和分析。

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5、智能显微镜控制

系统支持智能显微镜控制,支持透射/反射、明场/偏光等观察方式,与样品位置Grain/Mice随动,支持智能光强管理,支持不同倍率物镜中心位置矫正补偿。

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6、目标颗粒选择

系统支持多种方式寻找和选择目标颗粒,用于后续拍照和测量。

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7、自动目标颗粒扫描

支持单个颗粒断层扫描、保存Z-stack图像序列,支持单颗粒超景深照片合成;支持多颗粒批量扫描,提高工作效率。

扫描过程照片自动抓拍、自动保存,进度状态实时可见;照片信息存入数据库,方便查询;提供图片浏览功能,可以实现颗粒定位回溯、重新拍照等功能;

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8、径迹参数测量

支持多种径迹参数的自动测量和人工测量,包含径迹数量、面积、最大,最小卡规直径及其比率等颗粒参数,且可解决裂变径迹坐标、空间长度、角度、径迹数量、晶粒面积及径迹密度的数据测量问题。

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9、径迹统计&报告

支持多种径迹参数的标准统计,包含最大值、最小值、平均值、标准差等。

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10、数字薄片

支持按照样品项目管理,扫描、存储薄片照片和径迹测量数据。从而实现薄片&目标颗粒的数字化,方便长期保存和后期分析,以及数据追溯。

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11、用心服务放心使用

全面的服务在于您的需要不只是一件产品,而在于您的企业或科研发展的同时,有我们对您的要求和需要一呼即应。良好长久的合作、使您方便是我们成功之处。

系统自问世以来,深受广大学及研究所等用户的信赖和支持;一旦获取,终生免费升级。

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